對于出廠(chǎng)的LED模塊（即LED顯示模組），需要進(jìn)行各個(gè)方面的性能測試，為了檢測OLED模組在高低溫環(huán)境下的工作性能，一般需要對LED模組進(jìn)行快速溫變測試。下面是LED模塊快溫變測試系統的技術(shù)要求。
產(chǎn)品名稱(chēng)：環(huán)儀儀器 LED模塊快溫變測試系統
系統構成：主要由工控機、可編程控制器、程控電源、光譜儀、光學(xué)探頭、快速溫變箱和LED模組承載裝置構成。
功能特點(diǎn)：統能夠在大范圍快速溫變環(huán)境下對OLED模組的光學(xué)參數進(jìn)行精確測試，提高測試結果的準確性，并實(shí)現測試過(guò)程的自動(dòng)化，提升測試效率。
主要參數：
工作原理：
通過(guò)老化排線(xiàn)連接程控多通道LED老化電源與環(huán)境試驗箱，老化排線(xiàn)一端(36p連接器端)插在程控電源輸出端口，另一端(金手指端)通過(guò)試驗箱進(jìn)線(xiàn)孔進(jìn)入箱體內，固定在高溫老化治具上。
進(jìn)行老化試驗時(shí)候，只需將老化板插在試驗箱內金手指上，設置相應實(shí)驗參數即可開(kāi)始試驗。
技術(shù)優(yōu)勢：
1.通過(guò)溫度傳感器和加熱模塊的配合，可以更加精確地控制測試過(guò)程中的溫度，確保LED模組在穩定的溫度環(huán)境下進(jìn)行測試，減少溫度波動(dòng)對測試結果的影響。
2.能夠提供 -60℃ - 150℃的寬溫范圍，且溫變速率可達15℃/S以上，能夠滿(mǎn)足不同類(lèi)型OLED模組在不同溫度環(huán)境下的測試需求。
3.系統可以實(shí)現對多通道LED模組的單獨測試，每個(gè)LED模組都能夠在獨立的測試條件下進(jìn)行測試，提高了測試的靈活性和準確性。
如有LED模塊快溫變測試系統的選型疑問(wèn)，可以咨詢(xún)環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
