LED的理論壽命超過(guò)lO萬(wàn)小時(shí)，在實(shí)際使用中，大電流、高溫和高濕等都會(huì )產(chǎn)生和放大LED芯片的缺陷，加速燈具的老化速度。使用LED高溫高濕可靠性試驗箱對其進(jìn)行老化試驗箱，從而了解燈具的壽命特征、失效原因和失效模式，對LED燈具的可靠性設計和質(zhì)量改進(jìn)提供依據。
技術(shù)參數：
試驗原理：
當LED燈具工作在高溫高濕的環(huán)境中，容易出現失效性破壞，其中高溫會(huì )加劇濕度對LED的破壞。濕度場(chǎng)的平衡時(shí)間遠高于溫度場(chǎng)，雖然濕應力相對熱應力較小，但同樣會(huì )對LED的可靠性造成影響，同時(shí)由于熱應力影響燈具的密封性，濕氣可能會(huì )透過(guò)LED路燈的密封膠或其它縫隙進(jìn)入燈具內部，造成對燈具組件的腐蝕以及封裝材料特性的改變，進(jìn)而改變光傳輸途徑，降低光效。
相關(guān)試驗標準和要求：
1AEC-Q 102 之LED的高溫高濕工作壽命
該標準使用高溫度、高濕度以及施加偏置的方法，加速環(huán)境水汽透過(guò)外部保護材料或沿著(zhù)外部保護材料和連接它的金屬導體之間的界面滲透到器件內部，暴露器件可能存在的不足。最常見(jiàn)的高溫高濕條件為雙85，也就是85℃/85%RH。
AEC-Q102標準
車(chē)規級LED器件最常見(jiàn)的認證標準就是由美國汽車(chē)電子委員會(huì )（AEC）發(fā)布的AEC-Q102標準（方法參考JESD22-A101D.01）。
其要求LED需在降額曲線(xiàn)中最大電流以及結溫變化小于3k兩個(gè)要求下進(jìn)行1000小時(shí)的高溫高濕工作壽命，試驗中必須監控電流電壓，以免過(guò)流導致結溫過(guò)高燒壞器件。
如有LED高溫高濕可靠性試驗箱選型疑問(wèn)，可以咨詢(xún)環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
