LED快速溫變試驗系統是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲存、運輸、使用的適應性。試驗過(guò)程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個(gè)循環(huán)，溫度循環(huán)試驗的嚴苛程度是以高/低溫度范圍、停留時(shí)間以及循環(huán)數來(lái)決定的。
試驗標準：GB/T 2423.34、IEC 60068-2-38、GJB150.5等
技術(shù)參數：
系統組成：
整套老化系統由1臺快速溫變試驗箱搭配一臺程控多通道老化電源，整套系統共提供40PCB端口。
老化原理：
通過(guò)老化排線(xiàn)連接程控多通道LED老化電源與環(huán)境試驗箱，老化排線(xiàn)一端(36p連接器端)插在程控電源輸出端口，另一端(金手指端)通過(guò)試驗箱進(jìn)線(xiàn)孔進(jìn)入箱體內，固定在高溫老化治具上。
進(jìn)行老化試驗時(shí)候，只需將老化板插在試驗箱內金手指上，設置相應實(shí)驗參數即可開(kāi)始試驗。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.可以對LED模組在-40℃~150℃溫度范圍內以15℃/S溫度升降溫速率變化下的強化加速測試，實(shí)現了在高低溫環(huán)境下對多通道LED模組的單獨測試。
2.可以在大范圍快速溫變環(huán)境下對LED模組的光學(xué)參數的測試，提高了測試結果的準確性，測試結果能夠真實(shí)反映OLED模組的質(zhì)量情況。
3.整套試驗系統由軟件控制完成整個(gè)測試流程，測試過(guò)程無(wú)需依賴(lài)于人工方式，可以完全自動(dòng)化進(jìn)行，檢測過(guò)程的效率高。
如有LED快速溫變試驗系統的選型疑問(wèn)，可以咨詢(xún)環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
