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一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介:常溫BIT測試老化柜是用于固態(tài)硬盤(pán)(SSD)常溫讀寫(xiě)測試(BurnInTest,BIT)的試驗設備,老化柜可以提供固態(tài)硬盤(pán)運行所需要的穩定溫度,為BIT測試提供保障。二、滿(mǎn)足標準:YD/...
固態(tài)硬盤(pán)(SSD)在生產(chǎn)過(guò)程中,需要進(jìn)行一系列的試驗,可程序硬盤(pán)高低溫度BIT老化箱在SSD的應用中,是屬于溫濕度環(huán)境測試的一個(gè)重要試驗項目,下面是該試驗的過(guò)程。測試硬件:環(huán)儀儀器 可程序硬盤(pán)高低溫度...
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介:可程式高低溫 SSD BIT老化試驗箱可用于SSD固態(tài)硬盤(pán)批量性進(jìn)行高/低溫濕度老化測試,或用于PCB電路板、各類(lèi)材料、電子產(chǎn)品等進(jìn)行高低溫濕度老化測試。二、依據標準:YD/T 3824...
固態(tài)硬盤(pán)(SSD)在生產(chǎn)過(guò)程中,需要在高低溫環(huán)境下進(jìn)行BIT老化測試,下面,我們根據實(shí)際要求,看看測試是怎么做的。測試硬件:環(huán)儀儀器 可編程高低溫 SSD BIT老化實(shí)驗箱測試軟件:BurnInTes...
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介:BIT(Burn-In Test)測試就是使用BIT軟件對固態(tài)硬盤(pán)進(jìn)行循環(huán)寫(xiě)入測試,再放入高溫箱中靜置。PCIE SSD BIT測試柜可以提供SSD的BIT測試所需要的高溫老化環(huán)境,目的...
編輯 | 環(huán)儀儀器固態(tài)硬盤(pán)SSD BIT測試箱主要用于固態(tài)硬盤(pán)BIT(Burn-In Test)測試的試驗設備,固態(tài)硬盤(pán)的BIT測試可以加速芯片老化,做潛在失效分析,發(fā)現產(chǎn)品的不足。對于BIT測試箱有...
固態(tài)硬盤(pán)的BIT測試需要用到BIT老化柜,固態(tài)硬盤(pán)如何在BIT老化柜里面做測試?下面是市面上主流固態(tài)硬盤(pán)廠(chǎng)商常用的試驗方法,下面我們來(lái)看看。固態(tài)硬盤(pán)BIT測試流程:試驗設備:環(huán)儀儀器固態(tài)PCIE通道B...