可編程高低溫 SSD BIT老化實(shí)驗箱測試要求

固態(tài)硬盤(pán)（SSD）在生產(chǎn)過(guò)程中，需要在高低溫環(huán)境下進(jìn)行BIT老化測試，下面，我們根據實(shí)際要求，看看測試是怎么做的。

測試硬件：環(huán)儀儀器 可編程高低溫 SSD BIT老化實(shí)驗箱

測試軟件：BurnInTest、H2test

測試環(huán)境：高溫75℃／低溫-10℃

測試樣品：固態(tài)硬盤(pán)

測試流程設計：

測試流程分為兩個(gè)階段，高溫測試和低溫測試。具體步驟如下：

高溫測試（75℃）： 運行BurnInTest軟件進(jìn)行高溫測試，持續12小時(shí)。

切換至低溫測試（-10℃）： 在測試箱溫度切換至-10℃，運行BurnInTest軟件進(jìn)行低溫測試，同樣持續12小時(shí)。

測試周期：一個(gè)完整的測試周期包括高溫和低溫測試各一次，總時(shí)長(cháng)為72小時(shí)，共循環(huán)三個(gè)周期。

測試后校驗：

測試結束后，使用H2test軟件進(jìn)行校驗，檢查固態(tài)硬盤(pán)是否出現壞塊。這一步驟在常溫環(huán)境下進(jìn)行，確保在不同溫度條件下測試后的硬盤(pán)狀態(tài)。