固態(tài)硬盤(pán)SSD BIT測試箱的特點(diǎn)詳解

固態(tài)硬盤(pán)SSD BIT測試箱主要用于固態(tài)硬盤(pán)BIT（Burn-In Test）測試的試驗設備，固態(tài)硬盤(pán)的BIT測試可以加速芯片老化，做潛在失效分析，發(fā)現產(chǎn)品的不足。對于BIT測試箱有哪些特點(diǎn)呢？下面我們來(lái)看看。

環(huán)儀儀器 固態(tài)硬盤(pán)SSD BIT測試箱的特點(diǎn)：

⑴極速傳輸

BIT測試箱的單口最大速度高達4000MB/S，即使在滿(mǎn)負荷運行時(shí)，仍能維持高達1500MB/S的最高速度。確保了在測試過(guò)程中能夠充分發(fā)揮SSD的潛在性能，為性能評估提供了可靠支持。

⑵大規模測試

具備多個(gè)端口（可按需定制），支持同時(shí)測試多臺電腦，每臺電腦可同時(shí)連接8個(gè)PCIE NVME SSD。這種高度的擴展性使得大規模測試變得輕松，為生產(chǎn)線(xiàn)上的高效生產(chǎn)提供了便利。

⑶智能自動(dòng)操作

整合自動(dòng)測試軟件，一鍵操作輕松實(shí)現。這不僅提高了測試效率，同時(shí)也降低了人為操作錯誤的風(fēng)險，使得測試過(guò)程更為智能化和可控。

⑷保護性設計

每個(gè)端口都配置保護座，一旦出現座子損壞，可以直接更換保護板。這樣的設計不僅提高了設備的可維護性，也延長(cháng)了設備的使用壽命。

⑸穩定電源供應

每個(gè)端子配備12V轉3.3V5A供電，提供充足的工作電流。同時(shí)，設備還具備短路、過(guò)流、過(guò)熱保護，確保在測試過(guò)程中電源穩定、安全可靠。

⑹下壓式母座

采用插入下壓式母座設計，避免了用久后接觸不良的問(wèn)題。

⑺人性化設計

硅膠定位柱的使用減輕了上下盤(pán)的操作難度，同時(shí)提高了效率。

⑻多長(cháng)度定位孔

設備具備32、40、60、80各種長(cháng)度的定位孔，以適應各種長(cháng)度的SSD測試需求。

只有性能強大的固態(tài)硬盤(pán)SSD BIT測試箱，才能應付大批量的SSD經(jīng)行BIT測試，而生產(chǎn)線(xiàn)需要應對大批量測試，而這款bit測試箱完全可以滿(mǎn)足用戶(hù)的測試需求。