固態(tài)PCIE通道BIT老化柜測試步驟

固態(tài)硬盤(pán)的BIT測試需要用到BIT老化柜，固態(tài)硬盤(pán)如何在BIT老化柜里面做測試？下面是市面上主流固態(tài)硬盤(pán)廠(chǎng)商常用的試驗方法，下面我們來(lái)看看。

固態(tài)硬盤(pán)BIT測試流程：

試驗設備：環(huán)儀儀器 固態(tài)PCIE通道BIT老化柜

試驗產(chǎn)品：固態(tài)硬盤(pán)

主要流程：

1. BIT測試

首先，在BIT測試中，通過(guò)軟件設置每次寫(xiě)入磁盤(pán)的15%，負荷最大1000，測試時(shí)間為72小時(shí)。BIT測試結果顯示“PASSED”，即通過(guò)了測試。這一步驟主要檢測固態(tài)硬盤(pán)在正常工作負荷下是否能夠正常運行，并保持性能穩定。

2. 高溫老化

接著(zhù)，將通過(guò)BIT測試的固態(tài)硬盤(pán)樣品放入老化柜中，設置溫度為100℃，進(jìn)行高溫老化測試，靜置3小時(shí)。這一步驟旨在模擬硬盤(pán)在高溫環(huán)境下的工作狀態(tài)，檢測其在極端條件下的表現，確保硬盤(pán)在高溫環(huán)境中不會(huì )出現性能問(wèn)題。

3. 壞塊檢測

完成高溫老化后，使用HD Tune Pro進(jìn)行壞塊檢測。結果顯示全綠，說(shuō)明在持續寫(xiě)入72小時(shí)及3小時(shí)高溫環(huán)境中并沒(méi)有導致固態(tài)硬盤(pán)產(chǎn)生壞塊。壞塊檢測是為了確保硬盤(pán)在老化測試過(guò)程中，存儲單元沒(méi)有受到破壞，仍然能夠正常讀寫(xiě)數據。

4. 無(wú)故障使用時(shí)間計算

根據測試數據，可以計算出固態(tài)硬盤(pán)大概的無(wú)故障使用時(shí)間。這一步驟是為了預估硬盤(pán)在正常使用情況下的壽命，為用戶(hù)提供更為可靠的使用體驗。

例如：在BIT測試中共進(jìn)行了591次循環(huán)，按照其931.5GB的實(shí)際可用容量，此次測試共寫(xiě)入82577GB數據，若按一個(gè)普通辦公用戶(hù)10GB/天的寫(xiě)入量計算，相當于可以使用22年而不出錯。