高低溫沖擊測試系統用于組件的溫度測試，例如汽車(chē)零件，傳感器，光纖收發(fā)器，微波設備，MCM，PCB，以及所有類(lèi)型的電子/非電子零件和其他測試物品。設備可調溫度-80℃~+225℃，準確地定位于需要進(jìn)行熱沖擊和溫度循環(huán)測試的冷熱區域。
技術(shù)參數：
技術(shù)優(yōu)勢：
在芯片可靠性測試方面，高低溫沖擊測試系統有著(zhù)不同于傳統高低溫箱的獨特優(yōu)勢: 變溫速率快，實(shí)時(shí)監測待測元件真實(shí)溫度，亦可隨時(shí)調整沖擊氣流溫度，可針對PCB電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC，單獨進(jìn)行測試，而不影響周邊其它器件。
功能特點(diǎn)：
1.低能耗設計, 待機時(shí)自動(dòng)節省電力。
2.干燥的空氣吹掃功能, 防止水汽在測試表面凝結。
3.通過(guò)內部制冷機自動(dòng)除霜, 快速清除高低溫測試機內部積聚的水汽。
4.觸摸屏操作界面，顯示實(shí)時(shí)溫度變化。
5.通訊接口RS485、USB, 支持測試數據存儲和導出，可選配其他數據接口。
使用方法：
1.將被測芯片或模塊放置在測試腔中，將熱流罩壓在測試腔位置。
2.設置需要測試的溫度范圍。
3.啟動(dòng)設備，利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入高低溫測試機內部制冷機進(jìn)行低溫處理， 然后空氣經(jīng)由管路到達加熱頭進(jìn)行升溫，氣流通過(guò)熱流罩進(jìn)入測試腔。熱流罩中的溫度傳感器可實(shí)時(shí)監測當前腔體內溫度。
4. 在芯片測試平臺下，設備快速升降溫至要求的設定溫度，實(shí)時(shí)檢測芯片在設定溫度下的工作狀態(tài)，對于產(chǎn)品分析，工藝改進(jìn)以及定向品質(zhì)追溯提供確實(shí)的數據依據。
如有高低溫沖擊測試系統的選型疑問(wèn)，可以咨詢(xún)環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
