JESD22標準半導體元件恒溫恒濕實(shí)驗箱

JEDEC曾經(jīng)是電子工業(yè)聯(lián)盟，1999年，JEDEC獨立成為行業(yè)協(xié)會(huì )，拋棄了原來(lái)名稱(chēng)中縮寫(xiě)的含義，目前的名稱(chēng)為JEDEC固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì )。固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì )發(fā)布的相關(guān)標準為JESD22測試標準。

JESD22標準半導體元件恒溫恒濕實(shí)驗箱，可用于JESD22-A100標準的循環(huán)溫度-濕度-偏差與表面凝結壽命測試、JESD22-A101標準的穩態(tài)溫度-濕度偏差壽命測試。

測試要求：

1. 試驗設備：環(huán)儀儀器 標準半導體元件恒溫恒濕實(shí)驗箱

2. JESD22-A100D 溫度-濕度-偏差與表面凝結壽命測試：
測試時(shí)間:1008（-24，+168）小時(shí)；
測試溫度：30~65℃，但僅在65℃駐留；
測試濕度：90%~98%RH；
溫度變化速率：8.75℃/h~17.5℃/h;

測試步驟及一些注意點(diǎn)：
1）測試后的檢查不應晚于48小時(shí)后，還有96小時(shí)內要恢復。
2）若是測試后設備不是放在試驗箱恢復，而是放在一個(gè)沒(méi)有干燥劑的密封袋內，考慮到1/3的烘干（吸濕）速率，則上面的時(shí)間分別延長(cháng)為144和288小時(shí)；
3）當溫度從65到30再到65的過(guò)程中，相對濕度可能掉到80%，溫度箱應有減壓功能；
4）測試過(guò)程中含有離子污染物的治具需要受到管控；
5）去離子水的阻抗要求最小阻抗＞1MΩ•cm；
6) 如果周期性上電測試，需要指定周期頻率和占空比（duty cycle）；

3. JESD22-A101 穩態(tài)溫度-濕度偏差壽命測試
測試時(shí)間:1000（-24，+168）小時(shí)；應用此標準并非一定要測這么長(cháng)時(shí)間，如果不是此測試時(shí)間則指定下測試時(shí)間即可；
測試溫度：85℃, 容差± 2度，溫箱干球溫度；
測試濕度：85%RH，容差± 5%；

注意點(diǎn)：
1）升溫升濕（Ramp-up)要在3小時(shí)內完成,同時(shí)要避免冷凌水，通常的做法是先升溫，再升濕。
2）降溫降濕（Ramp-down)要在3小時(shí)內完成，同時(shí)避免冷凌水，這里有寫(xiě)在ramp-down過(guò)程中始終保持干球溫度高于濕球溫度，通常我們做法是先降濕，再降溫。