半導體元件恒溫恒濕實(shí)驗箱的應用

半導體元件恒溫恒濕實(shí)驗箱是一種用于模擬半導體元件在恒定溫度和濕度條件下進(jìn)行測試和評估的設備。其作用主要對半導體元器件進(jìn)行濕熱存儲、高溫高濕試驗，這些試驗一般會(huì )使用到半導體元件恒溫恒濕實(shí)驗箱。

半導體元件恒溫恒濕實(shí)驗箱在實(shí)際應用中，會(huì )涉及到以下標準：

1. GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分：溫濕度貯存

2. IEC 60749-42:2014

3. JEDEC JESD22-A100E：2020 循環(huán)溫度-濕度-偏差與表面凝結壽命測試

4. JEDEC JESD22-A101D.01：2021 穩態(tài)溫度-濕度偏差壽命測試

5. EIAJ ED-4701 100：2001 半導體器件的環(huán)境和耐久性試驗方法

下面結合半導體元件恒溫恒濕實(shí)驗箱，來(lái)聊聊一些相關(guān)試驗。

1. 在《GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分：溫濕度貯存》標準中，需要把半導體器件放置在試驗箱中，做以下試驗：

a. 40℃、90%RH，持續8000h的存儲試驗。

b. 60℃、90%RH，持續4000h的存儲試驗。

c. 85℃、85%RH，持續1000h的存儲試驗。

2. 在《JESD22-A100D 穩態(tài)溫度-濕度偏差壽命測試》標準中，需要進(jìn)行以下試驗：

測試時(shí)間:1008（-24，+168）小時(shí)；

測試溫度：30~65℃，但僅在65℃駐留；

測試濕度：90%~98%RH；

溫度變化速率：8.75℃/h~17.5℃/h;

以上兩個(gè)標準中的試驗，在使用半導體元件恒溫恒濕實(shí)驗箱時(shí)，只需要把測試產(chǎn)品放置在實(shí)驗箱中，在控制器設置好溫度、濕度、測試時(shí)間，就可以自動(dòng)進(jìn)行試驗了。