可程式高低溫SSD老化試驗箱

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
固態(tài)硬盤(pán)(SolidStateDrives，SSD)，是用固態(tài)電子存儲芯片陣列制成的硬盤(pán)，具有傳統機械硬盤(pán)不具備的快速讀寫(xiě)、質(zhì)量輕、能耗低以及體積小等優(yōu)點(diǎn)。可程式高低溫SSD老化試驗箱則用于固態(tài)硬盤(pán)需要在高溫、低溫條件下進(jìn)行可靠性測試，測試狀態(tài)既包括斷電狀態(tài)，也包括通電下最高讀取速率的工作狀態(tài)。

二、滿(mǎn)足標準：
YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應用的固態(tài)硬盤(pán)測試規范
JEDEC 218

三、技術(shù)參數：

四、產(chǎn)品特點(diǎn)：
可程式高低溫SSD老化試驗箱采用精確的冷凍系統及風(fēng)道系統的控制，溫濕度控制準確能很好的滿(mǎn)足SSD的高速度，高能耗，高熱量，高精度的要求?？臻g小，效率高，可移植性強?？扇菁{64片SSD產(chǎn)品，測試環(huán)境能滿(mǎn)足從-40℃到150℃，濕度從5%到98%的長(cháng)期的精確控制。

在固態(tài)硬盤(pán)（SSD）上市之前，必須經(jīng)歷老化、高低溫等一系列試驗，其中對于溫度控制、風(fēng)速等方面有特殊的測試要求。盡管市場(chǎng)上存在多種固態(tài)硬盤(pán)測試產(chǎn)品，但普遍存在風(fēng)場(chǎng)風(fēng)速分布不均、溫度均勻性差、能耗高、測試效率低等問(wèn)題。

為解決這些問(wèn)題，“環(huán)儀儀器”對試驗箱的結構布局、制冷系統和控制系統等方面進(jìn)行了仔細的優(yōu)化設計，在風(fēng)速和溫度一致性、能源效益等方面取得了顯著(zhù)的改進(jìn)。