固態(tài)硬盤(pán)為什么要用分體式固態(tài)硬盤(pán)RDT測試老化柜

固態(tài)硬盤(pán)的RDT測試是固態(tài)硬盤(pán)生產(chǎn)過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節，RDT測試中，可以用分體式固態(tài)硬盤(pán)RDT測試老化柜來(lái)測試，RDT測試老化柜在測試過(guò)程中起到什么意義？下面我們來(lái)看看。

環(huán)儀儀器 固態(tài)硬盤(pán)RDT測試老化柜測試意義：

一、完成可靠性驗證：

可靠性驗證試驗（RDT）是對固態(tài)硬盤(pán)（SSD）進(jìn)行的一項長(cháng)期嚴格測試，旨在證明每個(gè)SSD符合最嚴格的質(zhì)量要求。所有測試參數旨在驗證驅動(dòng)器的平均無(wú)故障時(shí)間（MTBF）額定值。

二、RDT測試條件：

順序/傳輸流量：128K/256K/512K

隨機/傳輸流量：4K/8K/16K/32K

三、RDT（可靠性驗證試驗）結果：

ATP在各種容量的SATA M.2 2280 SSD上執行RDT。所有SSD都完成了RDT，沒(méi)有任何問(wèn)題或數據錯配。

采用Arrhenius方程計算半導體器件失效時(shí)間分布的熱加速因子。

關(guān)鍵要點(diǎn)：

ATP 在較長(cháng)時(shí)間內對其 SSD 執行完整的實(shí)際驅動(dòng)器級別測試，以驗證額定 MTBF 值，而不是依賴(lài)可靠性預測系統。根據 JEDEC 標準執行 RDT 以確定驅動(dòng)器可靠性，并使用 Arrhenius 方程計算半導體器件故障時(shí)間分布的熱加速因子。 所有 SSD都完成了 RDT，而沒(méi)有出現問(wèn)題或數據錯配。

可靠性驗證試驗是SSD開(kāi)發(fā)和執行的可靠性和耐久性測試的一部分，以確保其產(chǎn)品嚴格遵守最高質(zhì)量標準。

總的來(lái)說(shuō)，固態(tài)硬盤(pán)RDT測試老化柜測試RDT主要目的是篩選不合格的盤(pán)片，其中包括了焊接問(wèn)題、顆粒問(wèn)題、DRAM以及主控問(wèn)題，通過(guò)RDT測試，能保證盤(pán)片在使用過(guò)程中穩定可靠。