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        薄膜鍵盤(pán)的溫度試驗技術(shù)規范

        時(shí)間:2023-06-09 09:15:48 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:次

        薄膜鍵盤(pán)是近年來(lái)國際流行的一種集裝飾性與功能性為一體的一種鍵盤(pán),薄膜鍵盤(pán)怎么做溫度試驗呢?下面小編帶大家認識一下它的溫度試驗技術(shù)規范,看看應該怎么做相關(guān)試驗。


        薄膜鍵盤(pán)的溫度試驗規范如下:


        1.高溫:
        將薄膜鍵盤(pán)放置在恒溫恒濕試驗箱中,試驗箱溫度調節為55℃±2℃,持續保溫時(shí)間72 h,試驗過(guò)程中不通電,不做功能試驗。試驗后在一般大氣條件下恢復2 h,進(jìn)行檢測,外觀(guān)質(zhì)量、絕緣電阻、耐壓值的結果應符合要求。


        2.低溫:
        將薄膜鍵盤(pán)放置在恒溫恒濕試驗箱中﹐試驗箱溫度為-40℃±3℃,持續保溫時(shí)間72 h,試驗過(guò)程中不通電,不做功能試驗。試驗后在一般大氣條件下恢復2 h,進(jìn)行檢測﹐回線(xiàn)電阻和按鍵力的結果應符合要求。

        薄膜鍵盤(pán)測試用恒溫恒濕試驗箱

        3.恒定濕熱:
        將薄膜鍵盤(pán)放置在試驗箱中,試驗條件為溫度:40℃±2℃,相對濕度:93%±3% ,時(shí)間持續4 d ,樣品不包裝,試驗過(guò)程中不通電。試驗后在一般大氣條件下恢復2 h,進(jìn)行檢測,外觀(guān)質(zhì)量、回線(xiàn)電阻、絕緣電阻和耐壓值的結果應符合要求。


        4.溫度變化:
        將薄膜鍵盤(pán)放置在試驗箱中,樣品處于不包裝,不通電的準備使用狀態(tài)進(jìn)行試驗,經(jīng)受-40℃~+55℃,轉換時(shí)間不大于3 min,高、低溫的暴露時(shí)間均為30 min的5次溫度循環(huán)。試驗后,在一般大氣條件下恢復2h,進(jìn)行檢測,外觀(guān)質(zhì)量、回線(xiàn)電阻、絕緣電阻和按鍵力的結果應符合要求。


        對于上面的薄膜鍵盤(pán)測試規范,大家還存在疑問(wèn)的,歡迎來(lái)電咨詢(xún)。


        標簽: 溫度試驗

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