元器件的組裝越復雜,越需要更多的試驗來(lái)驗證可靠性。其中,環(huán)境應力篩選(ESS)就是其中的一個(gè)試驗項目,環(huán)境應力篩選用到的試驗設備為快速升降溫試驗箱。
在環(huán)境應力篩選(ESS)試驗、老化試驗、初始功能試驗或在初期使用過(guò)程中,主要由于不充分的性能或生產(chǎn)工藝而導致的失效。
為什么表面貼裝 電子元器件要做應力篩選?
篩選過(guò)程利用由環(huán)境產(chǎn)生的應力,使組裝件中“薄弱的”元器件的應力超限達到失效點(diǎn),防止這些潛在缺陷在現場(chǎng)使用中出現,引起現場(chǎng)失效。產(chǎn)生這些應力的環(huán)境可能或不可能與產(chǎn)品使用環(huán)境條件有關(guān)。
一旦出現失效,元器件就會(huì )被檢測出來(lái)并被維修、替換、報廢,或為未來(lái)產(chǎn)品重新設計。ESS必須在不損壞“正常的”元器件的情況下進(jìn)行。ESS不是加速可靠性試驗。
環(huán)境應力篩選的主要設備:
1.快速升降溫試驗箱/快速溫度變化試驗箱
2.設備型號:HYQT系列
3.設備品牌:環(huán)儀儀器
4.升降溫速率的選擇:5℃/min、10℃/min、15℃/min