適用行業(yè)：IC半導體、連接器、線(xiàn)路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等
產(chǎn)品用途：HAST試驗箱試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間，用于調查分析何時(shí)出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗。
產(chǎn)品說(shuō)明：
高度加速壽命試驗機的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加 快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間。
用于調查分析何時(shí)出現電子元器件和機械零件的磨耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗。
隨著(zhù)半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長(cháng)期的THB試驗而不會(huì )產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時(shí)間，采用了壓力蒸煮鍋試驗方法。
壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類(lèi)型：即PCT和USPCT(HAST) 現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會(huì ))所標準化。
技術(shù)參數：
飽和蒸汽壽命試驗機規 格 | HY-PCT-250 | HY-PCT-350 | HY-PCT-450 | HY-PCT-650 |
內箱尺寸(Inside dimensions (W ?H?D) cm) | ￠250×300 | ￠350×400 | ￠450×500 | ￠650×600 |
外箱尺(Outsidedimensions (W?H?D) cm) | 500×450×650 | 600×550×750 | 700×650×850 | 700×650×850 |
內箱材料(Internal m*terial) | 不銹鋼#316 | |||
外箱材料(External m*terial) | 噴塑 | |||
溫度范(Temperaturerange) | +100℃～132℃(可選購達147℃) | |||
結構 (Structure) | 標準壓力容器 | |||
加濕系統(Humidificationsystem) | 電熱管 | |||
加濕給水系統(Humidification water supply) | 手動(dòng)加水 | |||
壓力范圍 | 0～2kg/c㎡(可選購達3kg/c㎡) | |||
電壓(V) | 220V~240V 50/60HZ單相 | |||
