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對于 LED 光源的可靠性失效分析，一般采用加大應力 (如高溫應力和濕度應力等) 的方法對樣品進(jìn)行加速老化 ，這樣可在短時(shí)間內得到樣品失效信息并對其可靠性進(jìn)行分
LED模塊溫濕度加速老化試驗箱是用于測試LED（發(fā)光二極管）在高低溫濕熱條件下的性能的設備。LED在不同環(huán)境下受到影響，試驗箱可以模擬自然界中的濕熱環(huán)境，評估L
目前 LED 產(chǎn)品擁有幾萬(wàn)小時(shí)的壽命，無(wú)法短時(shí)間內發(fā)生老化失效現象，因此為了研究 LED 產(chǎn)品老化機理，我們將 LED 產(chǎn)品放置于高溫高濕的環(huán)境下通過(guò)加速老化的
LED 在高溫高濕下的工作壽命試驗是利用恒定的溫度濕度和電流對 LED 進(jìn)行加速老化，根據試驗結果得出LED在此溫濕度下的工作壽命從而建立 LED 工作壽命與溫
LED燈珠的功能大多都會(huì )遭到周遭環(huán)境的溫濕度影響，如果長(cháng)時(shí)間處于濕潤環(huán)境，LED燈珠電子設備，金屬部件不久就會(huì )破壞。因此，LED燈需要在led濕熱可靠性試驗設備
對于 LED 來(lái)說(shuō)，使其老化加速的因素包括高溫、大電流和較高的相對濕度等。高溫加速 LED器件老化的機制是較高的溫度會(huì )加快化學(xué)反應速度，引起封裝材料的退化隨著(zhù)溫
led燈珠在溫濕度環(huán)境下的工作應力試驗是利用恒定的溫濕度和電流對 LED 進(jìn)行加速老化，根據試驗結果得出 LED的壽命，從而建立壽命與溫度之間的關(guān)系。下面，我們
led溫濕度環(huán)境模擬系統可用于LED、OLED等產(chǎn)品的環(huán)境應力試驗，試驗可以分為溫度循環(huán)試驗(TCT)與溫濕度循環(huán)試驗，前者主要是利用材料的熱膨脹不匹配(CTE
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