《GB/T 12085.23-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第23部分：低壓與低溫、大氣溫度、高溫或濕熱》是中國國家標準，屬于光學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域。該標準規定了一種綜合環(huán)境試驗方法，用于評估光學(xué)和光子學(xué)設備在低壓、低溫、大氣溫度、高溫或濕熱等復雜環(huán)境條件下的性能。
一、范圍：
本文件描述了低壓與低溫、大氣溫度﹑高溫或濕熱綜合試驗的環(huán)境試驗方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器以及來(lái)自其他領(lǐng)域附屬組件(如機械、化學(xué)和電子設備)的低壓與低溫、大氣溫度﹑高溫或濕熱綜合試驗。
二、試驗項目：
溫度濕度低氣壓綜合試驗。
三、試驗設備：
高低溫低氣壓試驗箱（室）。
四、設備廠(chǎng)商：
環(huán)儀儀器
.jpg "《GB/T 12085.23-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第23部分：低壓與低溫、大氣溫度、高溫或濕熱》標準(圖1)")
五、試驗程序（部分）：
為了達到試驗溫度﹐應在壓力降低之前開(kāi)始制冷。在調整氣壓之前，試樣應達到規定的測試溫度。在恒定的試驗箱(室)溫度下，熱有效試樣應受試驗溫度的影響，直至試樣的溫度變化不超過(guò)1K/h，然后開(kāi)始降壓。在此過(guò)程中，允許試樣內部發(fā)熱。
當試樣各部分達到試驗箱(室)溫差3K以?xún)?，且達到規定壓力時(shí)，即開(kāi)始條件試驗周期。
條件試驗完成后,按相關(guān)規范規定，在壓力上升期間，試樣上應形成凝露或結霜。有兩種方法可以在試樣上形成凝露或結霜。
以下兩種方法中的一種應在相關(guān)規范中規定。
a）低壓條件下產(chǎn)生結霜
在溫度為-20 ℃~-10 ℃范圍內和低壓為40 kPa的范圍內加熱過(guò)程中，水蒸氣充滿(mǎn)了試驗箱(室)。
b)標準條件下產(chǎn)生結霜
在加熱期間,試驗箱(室)內的壓力調整到標準壓力，同時(shí)溫度保持在-20 ℃~-10 ℃。
由于溫度低，水分在試樣上凍結和凝結。在終試期間，當存在結霜時(shí)，不準許試樣產(chǎn)生內在熱，以防止試樣干燥。
在試驗箱(室)內和試樣上都應測量溫度。溫度傳感器在試樣上的位置應在相關(guān)規范中規定。
測試報告中應注明用于測量箱(室)內空氣溫度的溫度傳感器的位置。
綜合環(huán)境試驗是為了模擬光學(xué)和光子學(xué)設備在實(shí)際使用中可能遇到的多種極端環(huán)境條件，包括低溫、低壓、高溫、濕熱等。這些試驗有助于評估設備在這些條件下的性能和可靠性，以確保其在實(shí)際應用中能夠正常工作。這對于需要在各種環(huán)境條件下使用的光學(xué)和光子學(xué)設備非常重要，如衛星通信設備、激光測量?jì)x器、航天器載荷等。通過(guò)進(jìn)行綜合環(huán)境試驗，可以確定設備的耐受性，以減少在實(shí)際使用中的故障風(fēng)險。
