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        《GB/T 12085.6-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第6部分:砂塵》標準

        時(shí)間:2023-09-05 08:52:53 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:次

        《GB/T 12085.6-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第6部分:砂塵》是中國國家標準,屬于光學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域。該標準規定了在實(shí)驗室條件下進(jìn)行光學(xué)和光子學(xué)設備的環(huán)境試驗,特別是針對砂塵環(huán)境的試驗方法。


        一、范圍:
        本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)砂塵的環(huán)境試驗方法。

        本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器,包括來(lái)自其他領(lǐng)域的組件(如機械、化學(xué)和電子設備)的砂塵試驗。

        本文件不適用于對粗粒砂塵耐磨性的試驗。


        二、試驗項目:
        砂塵試驗。


        三、試驗設備:
        砂塵試驗箱(室)等。


        四、設備廠(chǎng)商:
        環(huán)儀儀器



        《GB/T 12085.6-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第6部分:砂塵》標準(圖1)


        五、試驗程序(部分):

        每次試驗應使用新的砂塵。試樣應盡可能放在試驗箱(室)中心附近,如多個(gè)試樣同時(shí)試驗時(shí)﹐試樣的位置均應與空氣流動(dòng)方向垂直,并且試樣之間以及試樣與試驗箱(室)壁的距離均大于100 mm,試樣的安置應使最易損表面朝著(zhù)噴塵。在試驗期間試樣的位置可重新定位,以便將各個(gè)不同的表面暴露于空氣流,在有關(guān)標準中應規定對空氣流暴露的試樣表面的位置和數量,暴露周期應均勻分配給每一暴露面。


        該標準的主要目的是評估光學(xué)和光子學(xué)設備在砂塵環(huán)境下的性能和可靠性。在一些應用場(chǎng)合,如沙漠地區或含塵環(huán)境下,光學(xué)設備可能需要在惡劣條件下工作。通過(guò)進(jìn)行砂塵環(huán)境試驗,可以確定設備的抗砂塵性能,以確保其在實(shí)際應用中的可靠性和穩定性。這對于軍事、航空航天、油田等領(lǐng)域的設備尤為重要。


        標簽: 測試標準

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