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        《GB/T 18239-2000 集成電路(IC)卡讀寫(xiě)機通用規范》標準

        時(shí)間:2023-09-04 08:52:48 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:次

        GB/T 18239-2000 是中國國家標準,標題為《集成電路(IC)卡讀寫(xiě)機通用規范》(General Specification for Integrated Circuit (IC) Card Reader-Writer)。該標準規定了集成電路卡讀寫(xiě)機的技術(shù)要求和測試方法,以確保這種類(lèi)型的設備在讀寫(xiě)集成電路卡(通常稱(chēng)為IC卡或智能卡)時(shí)具有一定的性能和可靠性。


        一、范圍:
        本標準規定了集成電路(IC)卡讀寫(xiě)機(以下簡(jiǎn)稱(chēng)產(chǎn)品)的技術(shù)要求、試驗方法和檢驗規則、以及標志、包裝、運輸和貯存要求。

        本標準適用于IC卡讀寫(xiě)機產(chǎn)品。


        二、試驗項目:
        高低溫試驗、濕熱試驗、振動(dòng)試驗、沖擊試驗、跌落試驗等。


        三、試驗設備:
        恒溫恒濕試驗箱、振動(dòng)試驗臺、跌落試驗機等。


        四、設備廠(chǎng)商:
        環(huán)儀儀器


        《GB/T 18239-2000 集成電路(IC)卡讀寫(xiě)機通用規范》標準(圖1)


        五、試驗程序(部分):

        工作溫度下限試驗

        按GB/T 2423.1中試驗Ab進(jìn)行。(允許用非保溫性物品將產(chǎn)品包裹或密封,以防產(chǎn)品結霜、凝水。)按表1要求的工作溫度上限值加電運行檢查程序,產(chǎn)品應正常工作。


        貯運溫度下限試驗

        將產(chǎn)品放在恒溫箱中,按表1要求將溫度下降到貯運溫度下限,恒溫16 h,然后恢復到常溫,恢復時(shí)間2h,再進(jìn)行檢測應能正常工作。
        按表1要求的工作溫度下限值加電運行檢查程序,產(chǎn)品應正常工作。


        工作溫度上限試驗
        按GB/T 2423.2中試驗Bd進(jìn)行。


        貯運溫度上限試驗

        將產(chǎn)品放在恒溫箱中,把溫度升高到表1要求的貯運溫度的上限,恒溫16 h,然后恢復到常溫,恢復時(shí)間2h,再進(jìn)行檢測應能正常工作。


        通過(guò)遵循 GB/T 18239-2000 標準,制造商可以生產(chǎn)符合要求的集成電路卡讀寫(xiě)機,以確保其在讀寫(xiě)IC卡時(shí)具有可靠的性能。這些設備廣泛用于各種應用領(lǐng)域,如金融、身份驗證、門(mén)禁控制、交通卡等。同時(shí),該標準也為用戶(hù)和相關(guān)機構提供了技術(shù)依據,以選擇和使用適合其需求的集成電路卡讀寫(xiě)機。


        標簽: 試驗標準

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